什么是X射線熒光分析儀呢？而X射線熒光分析儀的原理又是什么呢？
X射線熒光分析儀是一種比較新型的可以對多元素進行快速同時測定的儀器。在X射線激發下，被測元素原子的內層電子發生能級躍遷而發出次級X射線。
科技引領未來
波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。
波長色散型X射線熒光光譜儀（WDXRF）是用晶體分光而后由探測器接收經過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和探測器做同步運動，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內各種元素所產生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度，可以據此進行特定分析和定量分析。該種儀器產生于50年代，由于可以對復雜體進行多組同時測定，受到關注，特別在地質部門，先后配置了這種儀器，分析速度顯著提高，起了重要作用。隨著科學技術的進步在60年初發明了半導體探測儀器后，對X熒光進行能譜分析成為可能。
能譜色散型X射線熒光光譜儀（EDXRF），用X射線管產生原級X射線照射到樣品上，所產生的特征X射線這節進入Si-Li探測器，便可以據此進行定性分析和定量分析，第一臺EDXRF是1969年問世的。近幾年，由于商品EDXRF儀器及儀表計算機軟件的發展，功能完善，應用領域拓寬，其特點，優越性日益受到認識，發展迅猛。