我們之前了解過，對于特征X射線，人們研究出波長色散型和能量色散型兩種X熒光分析方法。能量和波長是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量，X熒光光譜儀就是利用這些基本的熒光分析方法，并結合電子學及計算機技術而形成的一種精密測試設備。接下來我們將要探討能量色散型X熒光光譜儀的優(yōu)勢及局限性：
能量色散X射線熒光光譜儀的主要優(yōu)勢可以概括為以下幾點：
1、是一種真正意義上的無損檢測方法。被測樣品在測量前后，無論其化學成分、重量和形態(tài)都保持不變。
2、分析速度快，可以預篩選大量的樣品。一般情況下，檢測一個樣品中的諸元素只需3分鐘左右。
3、精度高，準確度好。可以快速（半）定量分析一個樣品中鉛、鎘、汞、鉻（非六價鉻）及溴（非PBB或PBDE）的含量水平。
4、自動化程度高。
而同樣，能量X射線熒光光譜分析也有它的局限性：
1、我們知道，如同其他X射線熒光光譜法一樣，EDXRF對原子序數(shù)較低的輕元素（Na、Mg、Al等）靈敏度低。
2、從使用角度講，特征X射線的穿透力很有限，只能檢測表面。
3、不能區(qū)分元素的化學種類，如六價鉻或PBB/PBDE。