隨著產品系列的增加，目前創想儀器研制并擁有自己的X熒光光譜儀。雖然此款儀器和火花直讀光譜儀同樣是測量樣品中元素含量的分析儀器，但是本質上還是不同的：
一、兩者分析原理
直讀火花直讀光譜儀是利用電弧（火花）的高溫，使樣品中的各種元素從固態直接汽化并激發而射出各元素的特征波長，用光柵分光后，成為按波長排列的“光譜”，這些元素的特征光譜線通過出射狹縫，射入各自的光電倍增管，光信號變成電信號，經儀器的控制測量系統將電信號積分并進行模/數轉換，然后由計算機處理，并打印出各元素的百分含量。
而X熒光光譜儀，顧名思義，是利用到X射線，當X射線照射試樣時，試樣可以被激發出各種波長的熒光X射線，把混合的X射線波長（或能量）分開，分別測量不同波長（或能量）的X射線的強度，進行定性和定量分析，這就是X熒光光譜儀，而根據采集數據方式的不同，又分為能量色散型（EDXRF）和波長色散型（WDXRF）。
X熒光光譜儀（左）和直讀光譜儀（右）
二、分析特點差異火花直讀光譜儀要求試樣具有導電性，且只能是固體樣品，具體地說就是火花直讀光譜儀只能分析金屬固體樣品中的元素。
而X射線熒光光譜儀由計算機控制，自動化水平高，分析速度快，它對樣品要求不高，可以分析粉末樣品、固體樣品、熔融樣品、液體樣品，不需要樣品具有導電性，金屬及非金屬樣品均可分析。
從這點來看，X熒光光譜儀適用范圍更廣。