X熒光光譜儀利用X射線對樣品表面，在獲得表面反射后，測量輻射強(qiáng)度從而對樣品進(jìn)行定性定量分析。對于樣品來說，制備過程往往比檢測環(huán)節(jié)更為重要，我們儀器來看一下。
有些固體試樣如陶瓷、玻璃或搪瓷本身就很平滑，所以其實(shí)并不需要再做表面制備了。另一些硬質(zhì)試樣如合金或礦物則必須用金剛砂、青玉或鉆石粉等磨料研磨表面。研磨的痕跡趨向應(yīng)與入射輻射和新生輻射所構(gòu)成的平面平行，以使表面吸收的變化ZUI小。軟質(zhì)材料如生物體或塑料可用刀片或其它類似工具切片，但應(yīng)謹(jǐn)慎，以防樣品沾污。為盡量簡化制樣手續(xù)，應(yīng)比較同一個(gè)試樣在不同光潔度條件下測得的X射線強(qiáng)度。以鋼這樣的合金為例，分別檢查經(jīng)過逐級研磨和拋光的試樣。若試樣經(jīng)過某一級研磨后其中各元素的X射線強(qiáng)度達(dá)到恒定值，則應(yīng)以拋光處理維持此值不變。在日常的試樣研磨過程中，如發(fā)現(xiàn)試樣經(jīng)某級研磨后其中各元素的X射級強(qiáng)度測量值與拋光試樣的強(qiáng)度相等，即可終止研磨。
X熒光光譜儀的固體樣品
必須指出，表面光潔度的要求主要取決于待測元素的原子序數(shù)。例如測定鋼中NiKα輻射時(shí)，表面可以粗糙一些；但在測定同一基體中的SKα或SiKα輻射時(shí)，表面必須很光滑。因?yàn)楸砻鎸煞N輻射的吸收程度不一，對NiKα輻射吸收輕微；對SKα或SiKα輻射吸收強(qiáng)烈。由此可見，表面光潔度對NiKα輻射的影響很小。經(jīng)驗(yàn)表明，試樣的表面粒度不應(yīng)大于某輻射貫穿試樣時(shí)強(qiáng)度損失10%所經(jīng)過的厚度。
固體樣品的制備，讓X熒光光譜儀的檢測更為精確。