質子X熒光光譜分析儀，作為能量X熒光光譜分析法的分支，它的主要原理是什么呢？小編帶你來了解一下。
質子X射線譜分析( PIXE)，它是20世紀70年代初發展起來的X射線熒光分析技術，它也屬于能量色散X射線熒光分析的一種。
質子X射線譜分析就是用經高能加速器加速的質子轟擊樣品，使樣品中分析元素的內殼層電子被激發。此時，內層將留下一個空穴，較外殼層的電子向這個空穴躍遷時，有可能發射分析元素的特征X射線或俄歇電子。在此物理過程中，發射的分析元素的特征X射線將被半導體探測器記錄、經計算機進行能譜處理，最終獲得被測元素的量。
質子的激發過程與利用X射線激發是不同的，與電子激發后所產生特征X射線的過程卻十分相似，所產生的本底比電子激發小三四個量級；質子激發輕元素的特征X射線的激發截面遠遠大于X射線的激發截面，可以同時分析一個樣品的主量元素和微量元素；在質子X射線譜分析中，質子束的直徑比較小，分析時所需的樣品量少，一般為幾μg至幾百mg； 另外，質子束可以聚焦，它的分析靈敏度比電子探針分析高2~ 3個數量級；該分析技術的絕對靈敏度可達10-16g，相對靈敏度為10-6~10-7；因此，質子X射線譜分析是當代進行痕量元素和微區元素分析較為有效的重要手段之一。但質子X射線譜分析的設備有個比較大的缺點就是，比較昂貴，且操作技術要求高。
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