X熒光光譜儀雖具有簡單的操作方式，通常大部分都是單獨譜線。但基于非常復雜的樣品而言，切不可忽略譜線受到的干擾，嚴重的甚至還會引發更大的干擾。因為存在干擾元素，在實際分析樣品的同時，定會形成干擾元素的待測元素和譜線的重合，只是所測出的結果強度較大，最終為分析的結果引來較大的偏差。
通常而言，元素譜線遭受的干擾并非十分復雜，先要對常見、極易受到干擾元素譜線的部分、干擾狀況等深入了解，然后判斷樣品測試圖譜的同時，重點在于若是存在某種元素，那么應該同時存在許多位置、多條譜線，針對兩條譜線以上，如Pb，應該觀看PbLa與PbLb兩條譜線，若是真實存在Pb元素，兩條譜線將會明顯體現出波峰；若是真的含有Pb元素在受到其它干擾元素的影響定會造成其偏大，故兩條譜線都會有相對明顯的波峰出現，但兩條譜線測出的結果定會產生較大的差異。
譜線的校正
可以通過以下方法進行克服：預防干擾線，選取沒有干擾的譜線用做分析線；合理的選取測量儀器的有利條件，使儀器分辨力進一步有所提升；使X光管管電壓下降到干擾元素的激發電壓下，預防譜線出現干擾元素;在實施數字校正的同時，現代化的儀器設備都具備數字校正的性能。
以上就是這次為大家帶來的關于X熒光分析儀測量時干擾元素的影響，希望對大家有幫助。