??我們有說過手持式X熒光光譜儀的介紹，用來檢測金屬元素簡單，方便，這次我們來說一下X熒光光譜儀的臺式版本。創想新研發的臺式X熒光光譜儀：
產品優勢
無損檢測
在無標準樣品時亦可準確分析
測量時間比化學方法短，不需要輔助材料
計算機進行數據處理，分析快速準確
高分辨率圖形即時顯示，由不同色塊加以判斷區分
硅半導體探測器
元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%
采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度
全自動定量分析報告 簡捷準確
自適應初試化校正
光譜的自動獲取和顯示
具有自動檢測儀器工作狀態的功能
自動判別樣品及自動分析
應用領域
石化產品
塑料和聚合物
食品和化妝品
環境
礦石
醫藥
建筑材料
中心實驗室成品檢驗
金屬材料
產品構成
工作原理
采用的是X射線熒光分析原理，受激發的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統測量這些放射出來的二次X射線的能量及數量。然后，儀器軟件將探測系統所收集到的信息轉換成樣品中各種元素的種類及含量
儀器結構
數據系統
融合經驗系數法、基本參數法（FP法）等分析方法，測試數據的準確性能得到全面保證。
經驗系數法：儀器依據對標準樣品的測定，確定影響系數。對標準樣品要求高，需和待測樣品類型相近，校正模型簡單。
基本參數法（FP法）：儀器根據實際檢測物質，通過對多種物理量建模計算確定參數。對標準樣品要求不高，計算較復雜，適合缺少對應標樣的物質檢測。
軟件功能
元素含量分析范圍為2 PPm到99.99%
采用BG內標校正，提高非定性式樣測量精度
用戶自定義多曲線多光譜擬和分析方法
全自動定量分析報告 簡捷準確
自適應初試化校正
光譜的自動獲取和顯示。
具有自動檢測儀器工作狀態的功能。
自動判別樣品及自動分析。提供擴展接口，進一步作其他元素分析，從鈣到鈾元素。
硬件
美國進口Si-PIN探測器，高速脈沖高度分析系統
美國SPELLMAN高壓發生器
美國進口前置放大器，與美國進口探測器兼容性好
美國進口主放大器，與美國進口探測器兼容性好
美國進口AD轉換模塊，與美國進口探測器兼容性好
尺寸＆重量
550（W）×450(D)×450(H)mm
60Kg（主機部分）
電源與環境要求
電源：220V±10％ 50Hz
環境溫度：10℃-28℃
環境濕度:≤70 ％RH(25℃室溫)