X射線熒光光譜儀是一種可以快速檢測消費品、涂層、土壤、金屬和其它物質中的化學元素的儀器。通過分析發射的X射線光譜，X熒光光譜儀可以同時檢測出30多種化學元素的濃度含量，以及非金屬元素氯、溴和磷。但一般只能測總含量，像總溴，總鉻。
X熒光光譜儀的主要五大功能如下：
1、在測定微量成分時，為了降低或消除背景和特征譜線等的散射X射線對高靈敏度分析的影響，X射線光譜儀配置了4種可自動切換的濾光片，有效地降低了背景和散射X射線的干擾，調整出ZUI具感度的輻射，進一步提高了S/N的比值，從而可以進行更高靈敏度的微量分析。
2、X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景，軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾，從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
3、當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近，會使此時譜圖的波峰重疊在一起，由此產生了重疊峰，確保了元素分析的正確性。
4、由于采用的是半導體探測器，因此當X射線在通過探測器的時候，如果某種元素的含量較高，其被吸收的概率也就越大。此時，光譜圖中在該元素的能量值減去能量值的地方回產生一個峰，此峰即為逃逸峰。
5、X熒光光譜儀在電壓不穩的情況下，可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
上面就是這次講解的關于X熒光光譜儀的功能。