在使用X熒光光譜檢測法檢測樣品時，常常會遇到多種因素，導(dǎo)致檢測誤差。有偶然誤差，就是我們常說的隨機誤差，這個是不可避免，另外的系統(tǒng)誤差就是儀器設(shè)備的誤差。還有一種是樣品問題帶來的誤差，這種樣品系統(tǒng)誤差就是基體效應(yīng)，那該怎么消除樣品的基體效應(yīng)呢？
基體效應(yīng)包括了顆粒效應(yīng)、礦物效應(yīng)和元素間的吸收增強效應(yīng)。
顆粒效應(yīng)
使用X熒光光譜檢測實際就是應(yīng)用熒光輻射來檢測，對被測熒光輻射有貢獻(xiàn)的樣品實際體積，取決于被測波長的有效穿透深度，也就是說，我們的樣品必須是完全均勻。另外，如果樣品成分隨深度變化，俺么測得的計數(shù)就代表不了整個樣品。當(dāng)樣品制備粗糙，不同組成的顆粒大小不同時，就容易出現(xiàn)這種現(xiàn)象。
顆粒效應(yīng)的影響會隨著樣品粒度的減小而減小，但是顆粒度的減小是有限的。有些樣品的顆粒效應(yīng)很嚴(yán)重，并不隨著樣品粒度的減小而減小。熔融制樣是消除顆粒效應(yīng)的有效方法。
樣品的顆粒效應(yīng)
礦石樣品粉末
礦物效應(yīng)
是指因為物質(zhì)化學(xué)成分雖然相同但結(jié)晶條件不同而造成晶體結(jié)構(gòu)的差異所引起的一種物理，化學(xué)效應(yīng)。其實，礦物效應(yīng)和顆粒效應(yīng)往往是并存的，所以消除的方法就用樣品熔融。
吸收和增強效應(yīng)
當(dāng)基體中某個元素產(chǎn)生特征輻射時，實際跑出樣品外的特征光子數(shù)目，比初始產(chǎn)生的光子數(shù)要少得多。因為大多數(shù)該元素的受激原子都在基體的內(nèi)部，它們產(chǎn)生的特征輻射離開樣品時，必須穿過一定體積的基體，這時就會被另一種元素吸收。吸收產(chǎn)生的光電效應(yīng)又能引起特征輻射的發(fā)射，即產(chǎn)生增強效應(yīng)。
所以，在使用X熒光光譜檢測時，應(yīng)注意對樣品的處理，有效消除其基體效應(yīng)。