我們將在下面為大家?guī)?lái)的是關(guān)于X熒光光譜儀的發(fā)展歷史，從它第一次為世人所知，到被如今被廣泛應(yīng)用，另外我們也為大家介紹它的產(chǎn)品特征。
X熒光光譜儀的發(fā)展歷史
X射線熒光光譜儀是基于X射線熒光光譜法而進(jìn)行分析的一種常用的分析儀器。X射線(又稱倫琴射線或X光)是一種波長(zhǎng)范圍在0.01～10nm之間的電磁輻射形式，是德國(guó)科學(xué)家倫琴在1895年進(jìn)行陰極射線的研究時(shí)，發(fā)現(xiàn)的“一種新的射線”。隨后，1896年，法國(guó)物理學(xué)家喬治(Georges S)發(fā)現(xiàn)X射線熒光。
1948年，F(xiàn)riedman和Briks應(yīng)用蓋格計(jì)數(shù)器研制出波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀，1969年美國(guó)海軍實(shí)驗(yàn)室成功研制第一臺(tái)能量色散X射線熒光光譜儀，自此，X射線熒光光譜法進(jìn)入蓬勃發(fā)展階段，特別是隨著材料科學(xué)、電子技術(shù)和計(jì)算機(jī)的飛速發(fā)展，X射線熒光分析技術(shù)及其軟件的不斷開發(fā)，使得EDXRF光譜儀發(fā)展逐步完善，無(wú)論是硬件還是軟件的開發(fā)與波長(zhǎng)色散X射線熒光(EDXRF)光譜儀基本同步。
創(chuàng)想儀器 EDX-6000型X熒光光譜儀
X熒光光譜儀的檢測(cè)特征
① 是一種真正意義上的無(wú)損檢測(cè)方法，具有不污染環(huán)境及低耗等優(yōu)點(diǎn)。被測(cè)樣品在測(cè)量前后，無(wú)論其化學(xué)成分、重量、形態(tài)等都保持不變，特別適合在現(xiàn)場(chǎng)或在線分析，能實(shí)時(shí)獲取多種數(shù)據(jù)。
② 分析速度快，由于一般無(wú)需進(jìn)行樣品預(yù)處理，甚至無(wú)需樣品的制備，X熒光光譜儀可以對(duì)大量的樣品進(jìn)行快速預(yù)篩選分析。一般情況下，檢測(cè)一個(gè)樣品需3分鐘左右。
③ 應(yīng)用范圍廣。可以同時(shí)測(cè)定樣品中多種元素，元素可檢測(cè)含量范圍從10^-6至100％，廣泛用于地質(zhì)、冶金、化工、材料、石油、醫(yī)療、考古等諸多領(lǐng)域，能量色散X射線熒光光譜儀已成為一種強(qiáng)有力的定性和半定量的分析測(cè)試技術(shù)。能量色散X熒光光譜儀器的發(fā)展，使X射線熒光分析方法更為有效，其應(yīng)用領(lǐng)域更加廣泛。
以上就是這次為大家?guī)?lái)的X熒光光譜儀的相關(guān)內(nèi)容。