X熒光光譜分析中，能量色散和波長色散X熒光光譜儀是兩種原理不太相同的儀器。
波長和能量是從不同的角度來觀察描述X射線所采用的兩個物理量。波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）是用晶體分光而后由探測器接收經過行射的特征X射線信號。如果分光晶體和控測器作同步運動，不斷地改變行射角，便可獲得樣品內各種無素所產生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度，可以據此進行定性分析和定量分析。
雖然波長色散型（ED-XRF）X射線熒光光譜儀與能量色散型（ED-XRF）X射線熒光光譜儀同屬于X射線熒光分析儀，它們產生信號的方法相同，得到的波譜或能譜也極為相似，但由于采集數據的方式不同，WDXRF（波譜）與WD-XRF（能譜）在原理和儀器結構上有所不同，功能也有區別。
X熒光光譜儀的電子元器件檢測
原理區別
X射線熒光光譜法，是用X射線管發出的初級線束輻照樣品，激發各化學元素發出二次譜線（X-熒光）。波長色散型熒光光儀（WD-XRF）是用分光晶體將熒光光束色散后，測定各種元素的特征X射線波長和強度，從而測定各元素的含量。而能量色散型熒光光儀（ED-XRF）是借助高分辨率敏感半導體檢測器與多道分析器將未色散的X射線熒光按光子能量分離X射線光譜線，根據各元素能量的高低來測定各元素的量。由于原理不同，故儀器結構也不同。
結構區別
波長色散型熒光光譜儀（WD-XRF），一般由光源（X射線管）、樣品室、分光晶體和檢測系統等組成。為了準確測量衍射光束與入射光束的夾角，分光晶體系安裝在一個精密的測角儀上，還需要一龐大而精密并復雜的機械運動裝置。由于晶體的術射，造成強度的損失，要求作為光源的X射線管的功率要大，一般為2~3千瓦。但X射線管的效率很低，只有1%的電功率轉化為X射線輻射功率，大部分電能均轉化為熱能產生高溫，所以X射線管需要專門的冷卻裝置（水冷或油冷），因此波譜儀的價格往往比能譜儀高。能量色散型熒光光譜儀（DE-XRF），一般由光源（X-射線管）、樣品室和檢測系統等組成，與波長色散型熒光光儀的區別在于它不用分光晶體。
能量色散X熒光光譜儀與波長色散X熒光光譜儀原理、結構均有所不同，但各有優點，選擇一款合適自己的產品。