X熒光光譜儀被認(rèn)為是用來分析檢測礦石的重要手段。
傳統(tǒng)巖礦鑒定方法是利用顯微鏡，通過觀察礦物物理性質(zhì)、礦物形態(tài)、礦物共生特征及礦物間相互關(guān)系來鑒別礦物種類和巖石類別，是巖礦鑒定的基本手段。但是自然界很多礦物存在類質(zhì)同象現(xiàn)象，如黝銅礦和砷黝銅礦、方鉛礦和硒鉛礦、鎢鐵礦和鎢錳礦等，這些礦物在顯微鏡下特征相似難以區(qū)分。但是使用X熒光光譜微區(qū)分析方法，獲取礦物的微區(qū)原位化學(xué)成分，解決類質(zhì)同象礦物、大部分不常見硫化物以及一些少見礦物在顯微鏡下鑒定困難的問題，提高礦物定名的準(zhǔn)確性。
X熒光光譜儀的礦石探測
1、根據(jù)需要，收集銅、鉛、鋅、鎢和鉬等有色金屬礦石標(biāo)本共計60件。標(biāo)本經(jīng)切片、平面處理、拋光等步驟制成待鑒定的光片。在顯微鏡下對礦石標(biāo)本進行研究鑒別，并結(jié)合電子探針分析的結(jié)果，給礦物定名，描述其結(jié)構(gòu)構(gòu)造特點，對礦石所表現(xiàn)的各種特征作礦物學(xué)解釋。
2、利用各元素ZUI佳優(yōu)化后的條件對礦石標(biāo)本指定區(qū)域，進行元素分布分析，利用各待測元素的熒光強度，繪制元素的二維或三維分布圖，建立X射線熒光光譜微區(qū)分析定性鑒定巖石礦物模型。
3、研究礦石標(biāo)本中可能存在的干擾元素對待測元素分析譜線的譜線重疊情況，同時選擇ZUI佳校正方案校正礦石的基體效應(yīng)和礦物效應(yīng)對定量分析結(jié)果的影響，建立X射線熒光光譜微區(qū)分析定量鑒定巖石礦物模型。并用電子探針分析、化學(xué)分析等其它分析方法驗證定量鑒定結(jié)果，進一步完善X射線熒光光譜微區(qū)定量分析技術(shù)。
4、用建立的微區(qū)分析鑒定模型鑒定收集的礦石標(biāo)本，繪制組分在測定區(qū)域內(nèi)的分布圖，根據(jù)主體組分含量，結(jié)合礦物組分含量的理論值，給礦物定名。
礦石的鑒定，使用X熒光光譜儀是一個不錯的方式。